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Compact Digital

Le più recenti innovazioni nei componenti digitali, richiedono funzionalità che vadano oltre ai sistemi di collaudo tradizionali. Questo sistema è la risposta di Seica alla costante richiesta di test su dispositivi integrati tramite tecniche vettoriali e protocolli dedicati come Boundary Scan.

Come tutte le soluzioni di Seica, anche il Compact Digital utilizza la piattaforma software VIP (Viva Integrated Pltaform) che ha come caratteristica principale l’utilizzo della migliore integrazione tra tecnologia e facilità di utilizzo. Grazie al sistema di misura a tecnologia avanzata presente nella scheda ACL, che contiene gli strumenti di stimolo e misura, è possibile “combinare” diverse soluzioni di collaudo. La tecnologia DSP integra tutte le potenzialità del collaudo, con sequenze completamente automatiche, e la comunicazione attraverso fibra ottica tra il PC ed il sistema di collaudo, riduce al minimo i disturbi esterni sulle misure effettuate.

Un software grafico (Quick Test) molto intuitivo, permette lo sviluppo dei programmi funzionali. Seica, nel corso degli anni, ha sviluppato e migliorato il proprio hardware per il collaudo digitale, raggiungendo con la scheda di misura F50, performance di altissimo livello. Questa scheda a 32 canali digitali ad alta frequenza, che può raggiungere un “pattern rate” a 25 MHz, include driver e sensori digitali.

La necessità di tracciare ed analizzare dati è la chiave per una efficiente digitalizzazione dei processi produttivi e per il perseguimento del concetto “industry 4.0”: anche per questo il sistema Compact Digital può essere connesso ed integrato a qualunque piattaforma MES (Manufactory Execution System).

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