L’uso del corretto livello di controllo e l’utilizzo appropriato dei risultati ottenuti consentono ai sistemi SPI di rilevare i dati geometrici dei depositi serigrafici e di correlare eventuali devianze agli eventi che li hanno generati. Attraverso la modulazione di fase della luce, il sistema di ispezione ottica realizza una misurazione tridimensionale che consente di definire con estrema precisione la geometria del deposito.